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저희 동서하이테크는 고객 여러분의 성원에 성실과 봉사정신으로 언제나 최선을 다하겠습니다.
유전율
제품설명
특징
■ 고유전율/저손실 유전체에 고정밀 측정이 가능합니다(JIS R1627규격 준수, 국제 규격 IEC 61338-1-3에 준거).
■ 2장의 반도체 평판 상하에서 유전체 원기둥 시료를 두고 유전체 공진기를 구성합니다.
두 종류의 참고 재료로 반도체판의 도전율(반도체판이 가진 손실치)을 측정하고 교정을 실시합니다.
■ 소프트웨어로 반도체판의 도전율, 시료의 유전율, 유전 손실을 계산.
■ 공진 피크를 쉽게 찾기 위한 보조 기능으로서 공진 주파수 추정 기능 탑재.
■ 설정 온도에서 시료의 유전율과 유전 손실이 계산합니다.또 공진 주파수에서의 온도 계수에 의한 유전율과 유전 손실도 계산합니다.
제품사양
사양
측정 주파수 | 20GHz이하 |
측정 범위 | 유전율:5~200 tanδ:0.00001~0.001 |
측정 정밀도 | 유전율:±1%, tanδ:±5% |
샘플 형식 | 원주 |
조건 | 네트워크 어날라이저가 필요 |
옵션정보
옵션
1. 본 장치는 어떤 네트워크 어날라이저에도 대응하고 있습니까?
- 키사이트의 PNA시리즈, ENA시리즈, 872x시리즈, Streamline / 안리츠 Shockline, VectorStar, 37xxx시리즈 / 로데슈바르츠 사의 ZVx & ZNx 시리즈를 사용할 수 있습니다. 그 이외의 네트워크 애널라이저를 가진 경우에는 문의바랍니다.
